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產品名稱:X射線膜厚測試儀韓國XRF-2020

產品型號:

產品報價:

產品特點:鍍層測厚儀加高型XRF-2020膜厚儀
加高型可容納20cm高樣品
可測試測腔體
韓國MicroP鍍層測厚儀
通過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
可測單層,雙層,多層X射線膜厚測試儀韓國XRF-2020,合金鍍層

X射線膜厚測試儀韓國XRF-2020的詳細資料:

X射線膜厚測試儀韓國XRF-2020


開關機順序

開機順序:顯示器→計算機主機→儀器主機→操作軟件

關機順序:操作軟件→計算機主機→儀器主機→顯示器


1. 儀器及附件均處開機狀態(電腦,顯示器)

2. 在程序庫中選中與產品對應的曲線(產品需與曲線一致)

3.  打開儀器前蓋,臺面自動伸出

4.  將樣品放入儀器臺面,測量大致位置對準儀器紅外對焦點

5.  關閉儀器前蓋,儀器臺面自動歸位

6.  在顯示器屏幕中用鼠標控制儀器臺面微調,精確對準測試位置

7.  點擊SART測試:

8.  測試過程中X-RAY指示燈亮紅,此時嚴禁打開儀器前蓋。

9.  測試時間15秒主窗口及數據表中顯示測試產品厚度

10. X-RAY指示燈熄滅,打開儀器前蓋,臺面自動伸出

11. 取出樣品,完成測試


MicropXRF-2020鍍層測厚儀


測量鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍錫,鍍銅,鍍鉻,鍍鋅,鍍鈀,鍍鋅鎳合金等

可測單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層,不限基材

常規測量范圍0.03-35um


XRF-2020系列型號


H :容納樣品長55cm  55cm   10cm (訂制可加高至20cm

L 型: 容納樣品長55cm   55cm  3cm

PCB 型:開放式設計,可測大型樣品


XRF-2020可測六層

誤差大約:第一層±5% 內:第二層±10% 內:第三層±15%


XRF-2020部份測量范圍:


:0.03-6um          :0.3-30um

:0.03-6um          :0.3-30um

:0.3-50um          :0.1-50um

:0.5-25um          : 0.5-30um

 

鋅鎳合金: 0.5-25um

化學鎳: 0.5-25um


產品如下圖所示

X-RAY膜厚儀韓國MicropXRF-2020

檢測電子電鍍,五金電鍍,PCB板,LED支架半導體連接器等電鍍層厚度。

測量鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等

可測單層、雙層、多層、合金鍍層測量,不限底料


X射線膜厚測試儀韓國XRF-2020


儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量。

通過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚

測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...


電鍍測厚儀,鍍層測厚儀,X射線測厚儀,X光測厚儀,X射線鍍層測厚儀,韓國MicroP XRF-2020測厚儀


鍍層測厚儀加高型XRF-2020膜厚儀

加高型可容納20cm高樣品

可測試測腔體



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